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      清潔度分析系統

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      產品參數

      產品編號: 清潔度分析系統BH-CIA780所屬品牌: BAHENS
      產品型號: BH-CIA780 額定功率:按實際方案提供
      所屬類別: 清潔度分析系統所屬用途: ISO4406
      應用領域:
      產品特性: 清潔度分析系統BH-CIA780由原裝進口奧林巴斯(OLYMPUS)顯微鏡、德國原裝進口電動臺,自動偏振照明,自動拍照系統、全自動清潔度分析軟件組成。 按照各種國內及國際標準:包括ISO4406、ISO4407、ISO16232、NAS1638、VDA19、GB/T 20082、GB/T 14039等,以及客戶自定義的標準,自動生成專 業的清潔度評級和分析報告。

      清潔度分析系統BH-CIA780

       

       

      顯微鏡

      ? 原裝進口奧林巴斯(OLYMPUS)顯微鏡SZ61

       

       

      檢測內容

      ? 雜質平面尺寸(可擴展雜質高度測量)

      ? 雜質數量

      ? 雜質形狀分類:顆?;蚶w維

      ? 雜質性質分類:反光(金屬),亞光(非金屬,金屬氧化物)

       

       

       

      偏振光照射

       

       

      依據雜質的反光和亞光在圖像上的灰度差別,為金屬與非金屬顆粒的判定和判定提供最直接的參考數據和影像,用偏振光照射,記錄在兩個情況下進行比較,然后用于準確區分金屬和非金屬顆粒。

       

       

      視場自動定位

       

       

      ? 采集過程自動拍照、照片自動保存,進度狀態實時可見;照片信息存入數據庫,方便查詢;

       

      ? 提供視場圖片瀏覽功能,可以實現視場定位回溯、重新拍照等功能。

       

       

      軟件分析

       

       

      ? 主界面包含多種數據展示方式:map圖、顆粒分析結果、顆粒數據列表、統計直方圖等。

       

      ? 支持模板化報告生成模式,包含統計數據、評級、濾片全貌圖、最 大顆粒照片等信息。

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