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      清潔度分析系統

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      產品參數

      產品編號: 清潔度分析系統BH-CIA880所屬品牌: BAHENS
      產品型號: BH-CIA500 額定功率:按實際方案提供
      所屬類別: 清潔度分析系統所屬用途: ISO16232
      應用領域:
      產品特性: 清潔度分析系統BH-CIA880按照各種國內及國際標準:包括ISO4406、ISO4407、ISO16232、NAS1638、VDA19、GB/T 20082、GB/T 14039等,以及客戶自定義的標準,自動生成專 業的清潔度評級和分析報告。

      清潔度分析系統BH-CIA880

       

       

      顯微鏡

       

      BAHENS光學顯微鏡(ISO16232規定),放大50倍-500倍,既可做清潔度檢測。

       

       

      檢測內容

       

      ? 雜質平面尺寸

      ? 雜質高度

      ? 雜質數量

      ? 雜質形狀分類:顆?;蚶w維

      ? 雜質性質分類:反光(金屬),亞光(非金屬,金屬氧化物)

       

       

      多種自動聚焦算法

       

       

      ? 支持多種聚焦模式:補償聚焦、跟 蹤聚焦、手動聚焦、EFI聚焦等。

       

      ? 采用最 新的聚焦算法,保證在試樣不夠平整的情況下也能得到清晰的圖像;

       

      ? 新精 確模式可以輕松辨認原本會產生誤判的亞光色金屬顆粒(綠色包圍部分),用偏振光照射,記錄在兩個情況下進行比較,然后用于準確區分金屬和非金屬顆粒。

       

       

      最 小顆粒分辨率

       

       

      ? 目鏡:大視場雙目觀察,觀察視域大而舒 適。

      放大倍數10倍,視場指數22毫米,三目鏡筒55-75mm可調瞳距。

       

      ? 物鏡:高性能高反差平場物鏡,鍍膜防霉。

      5X,10X,20X,50X

       

       

      統計與分析

       

       

      ? 系統自動識別顆粒、自動分析顆粒類別、自動統計顆粒參數。同時支持修改顆粒。

      ? 提供多種統計分析工具:MAP圖、顆粒列表、統計結果、直方圖等;

      ? 支持模板化報告生成模式,包含統計數據、評級、濾片全貌圖、最 大顆粒照片等信息;

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