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      清潔度分析系統

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      產品參數

      產品編號: 清潔度分析系統BH-CIA200所屬品牌: BAHENS
      產品型號: BH-CIA200 額定功率:按實際方案提供
      所屬類別: 清潔度分析系統所屬用途: ISO16232
      應用領域:
      產品特性: 清潔度分析系統BH-CIA200對所拍攝的雜質,自動檢測其數量,尺寸,形狀等參數。依據雜質的反光和亞光在圖像上的灰度差別,為金屬與非金屬顆粒的判定和判定提供最直接的參考數據和影像。依據不同長寬比的設定對纖維與非纖維進行精 確分類。

      清潔度分析系統BH-CIA200

       

       

      顯微鏡

      立體顯微鏡(符合ISO16232規定),放大6倍-50倍。

       

       

      檢測內容

      ? 雜質平面尺寸

      ? 雜質數量

      ? 雜質形狀分類:顆?;蚶w維

      ? 雜質性質分類:反光(金屬),亞光(非金屬,金屬氧化物)

       

       

       

      自動拍照、視場自動定位

       

       

      ? 采集過程自動拍照、照片自動保存,進度狀態實時可見;

      ? 照片信息存入數據庫,方便查詢;

      ? 提供視場圖片瀏覽功能,可以實現視場定位回溯、重新拍照等功能。

       

       

       

      自動識別

       

      ? 系統自動識別顆粒、自動分析顆粒類別、自動統計顆粒參數。

      ? 同時支持修改顆粒。

      ? 提供多種統計分析工具:MAP圖、顆粒列表、統計結果、直方圖等;

       

       

      清潔度報告

       

      ? 專 業清潔度報告,支持模板化報告生成模式;

      ? 包含統計數據、評級、濾片全貌圖、最大顆粒照片等信息;

       

       

      自動掃描樣品

       

       

      ? 支持多種掃描方式:矩形區域、圓形區域、環形區域、扇形區域等;滿足各種應用需要;

      ? 新精 確模式可以輕松辨認原本會產生誤判的亞光色金屬顆粒。

      ? 德國Märzhäuser原裝高精度電動掃描型自動掃描臺;行程76×52mm。

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