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      掃描電鏡

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      產品參數

      產品編號: 日本電子掃描電鏡JCM-6000Plus所屬品牌: JEOL
      產品型號: JCM-6000Plus 額定功率:按實際方案提供
      所屬類別: 掃描電鏡所屬用途: 金相組織觀察
      應用領域:
      產品特性: 臺式掃描電子顯微鏡日本電子JCM-6000Plus。除了電子槍合軸,聚焦,消象散,襯度/亮度調節這些分別獨 立的自動功能外,還具有全自動功能,只需輕觸按鈕就能開始成像過程,顯示當前的圖像.

      日本電子掃描電鏡JCM-6000Plus

      操作簡單

      自動功能

      除了電子槍合軸、聚焦、消象散、襯度/亮度調節這些分別獨 立的自動功能外,還具有全

      自動功能,只需輕觸按鈕就能開始成像過程,顯示當前的圖像。

      手動操作

      觸摸想操作的項目后,會亮起綠燈,用力長按按鈕可進行粗調,輕點按鈕可進行微調,

      既有觸控的簡便性也有使用旋鈕的熟悉感。

      圖像搜索 / 顯示

      顯示保存的圖像。選擇感興趣的的圖像,勾選 Display image 按鈕,能放大該圖像進行

      仔細觀測。

      顯示最低倍率圖像

      勾選Low Mag Imgae,能觀察剛抽完真空后的最低倍率的圖像,很適合確認樣品的位置。

      預設倍率

      最多能預設 6 種倍率,預先設置好常用的放大倍數還可提高作業效率 ! 只需按下其中的

      instant set 按鈕就可即時設定當前的倍率。

      觸摸屏&鼠標操作

      JEOL 的品牌──觸摸屏系統,不僅用戶界面簡明易懂,操作也非常直觀,調節倍率等

      就像使用智能手機一樣簡單方便,還可利用鼠標操作,就像使用以前的操作面板。

      觀察

       

      只需輕觸一下就可以切換高真空 / 低真空模式能觀察多種樣品。

       

      高真空模式 二次電子像

      高真空模式下能通過二次電子像和背散射電子像進行觀察。能觀察二次電子像中精細的表面結構,在高倍率下觀察也比較容易。

       

      高真空模式 背散射電子像

      由于采用了半導體背散射電子檢測 器,因而能檢測出成份像、形貌像和陰影像這三種信息,結合二次電子還可獲得多種信息。

       

      低真空模式

      利用 JCM-6000Plus 標配的低真空模式,可提高樣品室內的壓力,中和樣品表面的電荷,能直接觀察不導電樣品。

      觀察含有少量油分或水分的樣品以及釋放氣體、不易鍍膜的樣品也非常方便。

      圖像的搜索與打印

       

       

      搜索圖像窗口

      在 Search image window 中能選擇數據并方便地打印出來,還能調出保存好的圖像的成像

      條件(加速電壓、燈絲電流、探針電流等)。

       

      打印數據

      在 Search image window 中選擇感興趣的圖像,只需按下 Output images 按鈕就可以方

      便地打印出來。如果選擇了多幅圖像,系統會自動分配在每個頁面上。

       

      調出成像條件

      JCM-6000Plus 能調出保存的圖像的成像條件,只需選擇感興趣的圖像,押下

      Load observation conditions 按鈕,系統就會再現成像條件,進行日常操作非常方便。

       

      圖像觀察與測量

       

      雙幀顯示

      能并列顯示實時圖像和保存的圖像,在下面的實例中,右側顯示低倍率圖像及光學顯微鏡圖像,在左側利用實時圖像對放大的圖像進行確認,這樣就能對當前的圖像和保存的圖像一邊比較一邊觀察。

       

      動態觀察

      JCM-6000Plus 能拍攝視 頻,因而可以進行動態觀察。很適合觀察樣品隨時間的推移而發生的變化。

       

      測長

      JCM-6000Plus 具有測量兩點間距離的功能,選擇 Scaler 按鈕后,自動按鈕會切換到測長按鈕,測量結果能保存在圖像和csv 數據文件中。

      元素分析

       

      EDS 按下裝置的分析按鈕,就能開啟 EDS 視窗。EDS 能支持定性/定量分析、點分析和元素面分析(確認元素分布)。

      定性 / 定量分析

      用 Image(圖像)+ SPC(采集)兩個按鈕開始分析。數據采集結束后按下定量按鈕,就會顯示定量結果。

      元素面分析(元素分布)

      按下 Map 按鈕后,圖像的元素面分析開始。元素面分布結果會顯示組成元素的二維分布。

      援助復雜分析

      Analytical Assistance(分析援助)功能可使元素面分布和線分析更加容易。

      在 Analytical Assistance 視窗中選擇感興趣的分析后,所需作業步驟會按順序顯示出來。只需按照視窗中指示按鈕的引

      導,任何復雜的分析都能夠順利地完成。

      點分析

      在圖像上設定多個分析點后,系統會按順序自動分析各點上的元素并顯示譜圖。

      分析結束后還能比較這些譜圖數據。

      線分析

      在圖像上測試指定的線上的元素含量的變化。

      測試結束后還能改變元素。

      探針追蹤

      進行長時間分析時,能保持分析位置的穩定。

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